„Lutetiumoxyorthosilicat“ – Versionsunterschied
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Der lineare Schwächungskoeffizient µ ist jedoch geringer als der von BGO (0,87 cm<sup>−1</sup> vs. 0,96 cm<sup>−1</sup>)<ref name="Moses" />, so dass die [[Positronen-Emissions-Tomographie#Sensitivität und Spezifität der PET in der Diagnostik|Sensitivität]] für [[Gammastrahlung|Gammaquanten]] etwas geringer ausfällt. |
Der lineare Schwächungskoeffizient µ ist jedoch geringer als der von BGO (0,87 cm<sup>−1</sup> vs. 0,96 cm<sup>−1</sup>)<ref name="Moses" />, so dass die [[Positronen-Emissions-Tomographie#Sensitivität und Spezifität der PET in der Diagnostik|Sensitivität]] für [[Gammastrahlung|Gammaquanten]] etwas geringer ausfällt. |
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Lutetiumoxyorthosilicat kristallisiert im [[Monoklines Kristallsystem|monoklinen Kristallsystem]], {{Raumgruppe|C2/c|lang}}, mit den [[Gitterparameter]]n ''a'' = 14,28 [[Ångström (Einheit)|Å]], ''b'' = 6,640 Å, ''c'' = 10,25 Å und ''β'' = 122,2°.<ref>T. Gustafsson, M. Klintenberg, S.E. Derenzo, M.J. Weber, J. O. Thomas: ''Lu<sub>2< |
Lutetiumoxyorthosilicat kristallisiert im [[Monoklines Kristallsystem|monoklinen Kristallsystem]], {{Raumgruppe|C2/c|lang}}, mit den [[Gitterparameter]]n ''a'' = 14,28 [[Ångström (Einheit)|Å]], ''b'' = 6,640 Å, ''c'' = 10,25 Å und ''β'' = 122,2°.<ref>T. Gustafsson, M. Klintenberg, S.E. Derenzo, M.J. Weber, J. O. Thomas: ''Lu<sub>2</sub>SiO<sub>5</sub> by single-crystal X-ray and neutron diffraction.'' In: ''[[Acta Crystallographica]]'', C57, 2001, S. 668–669, [[doi:10.1107/S0108270101005352]].</ref> Die Struktur enthält isolierte O<sup>2−</sup>- und SiO<sub>4</sub><sup>4−</sup>-Ionen. |
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== Weblinks == |
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* Guohao Ren, Laishun Qin, Huanying Li, Sheng Lu: ''Investigation on defects in Lu<sub>2</sub>SiO<sub>5</sub>:Ce crystals grown by Czochralski method.'' In: Crystal Research and Technology, Volume 41, Issue 2, pages 163–167, February 2006 {{DOI|10.1002/crat.200510549}} |
* Guohao Ren, Laishun Qin, Huanying Li, Sheng Lu: ''Investigation on defects in Lu<sub>2</sub>SiO<sub>5</sub>:Ce crystals grown by Czochralski method.'' In: Crystal Research and Technology, Volume 41, Issue 2, pages 163–167, February 2006 {{DOI|10.1002/crat.200510549}} |
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Version vom 27. Juni 2017, 11:10 Uhr
| Kristallstruktur | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| |||||||
| __Lu3+ __ Si4+ __ O2− | |||||||
| Allgemeines | |||||||
| Name | Lutetiumoxyorthosilicat | ||||||
| Andere Namen |
LSO | ||||||
| Verhältnisformel | Lu2SiO5 | ||||||
| Kurzbeschreibung |
trigonale, farblose Kristalle[1] | ||||||
| Externe Identifikatoren/Datenbanken | |||||||
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| Eigenschaften | |||||||
| Molare Masse | 458,0165 g·mol−1 | ||||||
| Aggregatzustand |
fest | ||||||
| Dichte |
7,4 g·cm−3[1] | ||||||
| Schmelzpunkt | |||||||
| Brechungsindex |
1,82[1] | ||||||
| Sicherheitshinweise | |||||||
| |||||||
| Soweit möglich und gebräuchlich, werden SI-Einheiten verwendet. Wenn nicht anders vermerkt, gelten die angegebenen Daten bei Standardbedingungen (0 °C, 1000 hPa). Brechungsindex: Na-D-Linie, 20 °C | |||||||
Lutetiumoxyorthosilicat (LSO) ist eine Silicium-Sauerstoff-Verbindung des Lutetiums.
Mit Cer dotiert eignet es sich als Szintillatormaterial für den Nachweis von Gammastrahlen. LSO wurde Anfang der 1990er-Jahre entwickelt und hat seitdem bei vielen heute erhältlichen Positronen-Emissions-Tomographie-Systemen (PET) die bis dahin verwendeten Szintillatoren Bismutgermanat (BGO) und Gadoliniumorthosilicat (GSO) verdrängt.[1] Der Brechungsindex ist 1,82, der lineare Schwächungskoeffizient µ beträgt 0,87 cm−1 und die Zeitkonstante für das Abklingen einer Szintillation ist 40 ns[3]. Der u. a. von Kernladungszahl und Wirkungsquerschnitt abhängige Photoeffektanteil µr bei Photonen einer Energie von 511 keV beträgt 34 %.[4] LSO-Kristalle haben eine trigonale Kristallstruktur und eine Mohshärte von 5,8.
Die sehr kurze Zeitkonstante von 40 ns gegenüber 300 ns bei BGO ermöglicht bei der Positronen-Emissions-Tomographie kleinere Koinzidenzfenster und damit höhere Zählraten als dies bei sonst gleichem Gerätedesign möglich wäre. Der lineare Schwächungskoeffizient µ ist jedoch geringer als der von BGO (0,87 cm−1 vs. 0,96 cm−1)[4], so dass die Sensitivität für Gammaquanten etwas geringer ausfällt.
Lutetiumoxyorthosilicat kristallisiert im monoklinen Kristallsystem, Raumgruppe C2/c (Raumgruppen-Nr. 15), mit den Gitterparametern a = 14,28 Å, b = 6,640 Å, c = 10,25 Å und β = 122,2°.[5] Die Struktur enthält isolierte O2−- und SiO44−-Ionen.
Weblinks
- Guohao Ren, Laishun Qin, Huanying Li, Sheng Lu: Investigation on defects in Lu2SiO5:Ce crystals grown by Czochralski method. In: Crystal Research and Technology, Volume 41, Issue 2, pages 163–167, February 2006 doi:10.1002/crat.200510549
- Patent US6323489: Single crystal scinitillator. Veröffentlicht am 27. November 2001, Erfinder: KENNETH J MCCLELLAN.
Einzelnachweise
- ↑ a b c d e MTI Corporation: New Scintillation Crystal Ce:Lu2SiO5 (MS Word; 289 kB).
- ↑ Dieser Stoff wurde in Bezug auf seine Gefährlichkeit entweder noch nicht eingestuft oder eine verlässliche und zitierfähige Quelle hierzu wurde noch nicht gefunden.
- ↑ Charles L. Melcher, Scintillation Crystals for PET, J Nucl Med 2000; 41:1051–1055 ( vom 13. September 2006 im Internet Archive).
- ↑ a b William W. Moses: Nuclear Medical Imaging Techniques and Challenges; Lawrence Berkeley National Laboratory Department of Functional Imaging; February 9, 2005 (PDF; 9,3 MB)
- ↑ T. Gustafsson, M. Klintenberg, S.E. Derenzo, M.J. Weber, J. O. Thomas: Lu2SiO5 by single-crystal X-ray and neutron diffraction. In: Acta Crystallographica, C57, 2001, S. 668–669, doi:10.1107/S0108270101005352.
